下面介绍一种用单片机AD采样的方式检测市电电压的方法  要检测交流市电的电压,通常有两种方法 一.通过频繁的采样后再求平均值来获得实际电压值 二.通过采样交流市电的峰值,再通过算法得出实际电压值 这里我们讲述峰值采样法的步骤: 1.在正半波时,频繁采样市电AD值,在每次采样后进行 从小到大排序并保存几个最大值的结果,分别放在R_SaveVolAC[0]..R_SaveVolAC[3] 2.在负半波时,把刚才所采样到的几个值中,提取R_SaveVolAC[1]的值作为 上个正半波的的最大值.(R_

实现 AD 采样,使用 LCD1602 显示 AD 数值 写在前面 单片机内集成的A/D转换,一般都有相应的特殊功能寄存器来设置A/D的使能标志,参考电压,转换频率,通道选择,A/D输入口的属性(模拟量输入还是普通的I/O口),启动,停止控制等.有了这些寄存器,使得我们控制单片机的模拟量采集变得非常方便. A/D转换的基本原理是:将参考电平按最大的转换值量化,再利用输入模拟电平与参考电平的比例来求得输入电平的测量值(V测=V参*(AD量化值/AD转换的最大值)).有些MCU A/D转换的参考电平

实验采用带模拟量,分辨率为1-5V,量程为0--101kpa的真空表 数据采集模块采用DAM-8021,  16位模块 算法描述如下: 真空表读数范围: 0到-101kpa 模拟量输出: 1-5V 一次AD数据采集结果为(由串口助手取得):  >+03.921-00.000 此时真空表读数:  74.2 则系数A=(3.921-1)/74.2=0.0393 真空表模拟量输出修正系数:  是指真空表模拟量输出的偏差. 其取得方法为,  将真空去掉,让真空表读数为零, 读一次AD采样的结果, 例如其

在进行STM32F中AD采样的学习中,我们知道AD采样的方法有多种,按照逻辑程序处理有三种方式,一种是查询模式,一种是中断处理模式,一种是DMA模式.三种方法按照处理复杂方法DMA模式处理模式效率最高,其次是中断处理模式,最差是查询模式,相信很多学者在学习AD采样程序时,很多例程采用DMA模式,在这里我针对三种程序进行分别分析. 1.AD采样查询模式 在AD采样查询模式中,我们需要注意的是IO口的初始化配置,这里我采用PA2作为模拟采集的引脚(AIN2)和串口3作为打印输出. 具体如下:建立一个

说明:来源http://bbs.csdn.net/topics/390899032论坛讨论 一个100HZ的正弦波,我用300HZ的采样率去采样,那么根据香农定律是不是一秒钟就采集到300个点,因为这个波形是100HZ,所以这一秒钟内就有一百个波形经过,那么300个点平均到每个波形上就只有3个点了,也就是一个波形上采集3个点, 采样率一般是Sps为单位,而不是用Hz, 例如300Sps,即300 Samples Per  Second.100Hz的正弦,用300Sps的采样率,则平均每个正弦周期

在使用STM32的ADC进行检测电压时必须回涉及到电压值的计算,为了更高效率的获取电压,现在有以下三种方法: 你得到的结果是你当前AD引脚上的电压值相对于3.3V和4096转换成的数字.假如你得到的AD结果是ADC_DR这个变量,他们存在以下关系: ADC_DR/当前电压值 = 4096/3300毫伏如果你反过程想得到当前电压值,可以如下计算:unsigned long Voltage;Voltage = ADC_DR; //---假设你得到的AD结果存放到ADC_DR这个变量中;Voltage

Stm32的ADC有DMA功能这都毋庸置疑,也是我们用的最多的!然而,如果我们要对一个信号(比如脉搏信号)进行定时采样(也就是隔一段时间,比如说2ms),有三种方法: 1.使用定时器中断每隔一定时间进行ADC转换,这样每次都必须读ADC的数据寄存器,非常浪费时间! 2.把ADC设置成连续转换模式,同时对应的DMA通道开启循环模式,这样ADC就一直在进行数据采集然后通过DMA把数据搬运至内存.但是这样做的话还得加一个定时中断,用来定时读取内存中的数据! 3.使用ADC的定时器触发ADC转换的功能,

用122.88k时钟采样153.6k的信号

adc采集到的信号对低频有一定的衰减.因为要确定衰减的程度.通过da输出到示波器上观察. 数据如下: 输入 输出(enable) 输出(disable) 1v(20hz) 1v 0.88v 1v(10hz) 0.76v 0.76v 1v(8hz) 0.6v 0.68v 1v(5hz) 0.4v 0.5v 1v(3hz) 0.25v 0.35v 1v(2hz) 0.15v 0.25v 1v(1hz) 0.05v 0.12v 在8hz以下还是有比较到的衰减.这是使用示波器观察还是经过dac的于是想直

#include<reg52.h> sfr ADC_CONTR = 0xBC; //ADC control register sfr ADC_RES = 0xBD; //ADC 8-bit result register sfr P1ASF = 0x9D; //P1 secondary function control register /* Define ADC operation const for ADC_CONTER */ #define ADC_POWER 0x80 #define

iADC_read(, &u16NTC_1_Sample_Val_ARR[]); == ui8FirstSampleFlag) { ; i<; i++) { u16NTC_1_Sample_Val_ARR[i] = u16NTC_1_Sample_Val_ARR[]; } ui8FirstSampleFlag = ; } u16NTC_1_Sample_Val_ARR[] = (uint16_t) ((] + u16NTC_1_Sample_Val_ARR[] + u16NTC_1_Samp

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

毕设做无线心电监护.有线的做出来了,AD8232+MCU+LabVIEW上位机.pcb还没时间搞,这个9*7*2.5cm拿来测试能用. 自己做了AD8232的模拟前端,打的板子还没到没法测试. 虽然比较水,但看起来任务也完成的差不多了,于是就想加个蓝牙吧,有线传到电脑毕竟不方便.蓝牙找了些资料,想用TI的CC254x(因为51内核直接采集传输省下多大的体积呀,而且低功耗!!再说我那很丑的洞洞板上面的MCU也是51,应该好移植.硬币大小的心电监护仪岂不是卖爆了!!) naive!找到了下面这些资料

在利用keil进行8051单片机编程的时,常常需要进行绝对地址进行访问.特别是对硬件操作,如DA AD 采样 ,LCD 液晶操作,打印操作.等等.C51提供了三种访问绝对地址的方法: 1. 绝对宏:     在程序中,用“#include<absacc.h>”即可使用其中定义的宏来访问绝对地址,包括: CBYTE.XBYTE.PWORD.DBYTE.CWORD.XWORD.PBYTE.DWORD 具体使用可看一看absacc.h便知 例如: #include<absacc.h> #

飞思卡尔的KL25单片机AD做的是很不错的,SAR型能做到16位.不过数据手册就写得不怎么样了,简直可以说是坑爹,很难看懂.有的描述让人难以理解,你指望在别的地方对不理解的地方会有其他角度的描述,结果你发现关于同一描述,他们坚定的采用了复制粘贴的办法!擦! 而且,我还发现了数据手册的错误.用户手册上给出了一个案列,AD工作在16bit单端模式下ADCK为1MHZ,但是数据手册上注明如果AD工作在16比特模式,ADCK必须至少2MHZ,你说这不是坑爹不是!我给官网发了邮件,他们打哈哈让我去社区搜帖

之前一直没搞明白模拟电压转换电路,不知道应该怎么计算转换电压,最近一个项目中用到几处模拟电压的采集,硬件是由其他同事设计的,转换公式也是他给的,记录一下: 24V电压采集: 公式:Vout = Vin/(100+10)*10/(2+100)*100 12V电压采集: 公式:Vout = Vin/(10+2)*2/(2+100)*100 5V电压采集: 公式:Vout = Vin/(1+1)*1/(2+100)*100 3.3V电压采集: 公式:Vout = Vin/(1+4.7)*4.7/(2+

1)分辩率(Resolution) 指数字量变化一个最小量时模拟信号的变化量,定义为满刻度与2n的比值.分辩率又称精度,通常以数字信号的位数来表示.     2) 转换速率(Conversion Rate)是指完成一次从模拟转换到数字的AD转换所需的时间的倒数.积分型AD的转换时间是毫秒级属低速AD,逐次比较型AD是微秒级属中速AD,全并行/串并行型AD可达到纳秒级.采样时间则是另外一个概念,是指两次转换的间隔.为了保证转换的正确完成,采样速率(Sample Rate)必须小于或等于转换速率.因

如图,为单片机AD转换器的一种: ADC0804单片集成A/D转换器.它采用CMOS工艺20引脚集成芯片,分辩率为8位,转换时间为100µs,输入电压范围为0-5V.芯片内具有三态输出数据锁存器,可直接接在数据总线上. 各引脚名称及作用如下: VIN(+),VIN(-)--两模拟信号输入端,用以接收单极性.双极性和差模输入信号. DB7-DB0--具有三态特性数字信号输出口. AGND--模拟信号地. DGND--数字信号地. CLK--时钟信号输入端. CLKR--内部时钟发生器的外接电阻端,

1. 在实际种信号是模拟连续的,但是AD采样确实离散的数字的,根据采样定理,采样频率要是模拟信号的频率2倍以上采样到的值才没问题. 2. 打开工程 unsigned ]; main() { int i; unsigned int uWork; EnableAPLL(); SDRAM_init(); InitADC(); PLL_Init(); InitCTR(); InitMcBSP(); ) { ;i<;i++ ) { ADCCTL=0x8000; // 启动AD转换,通道0 do { uWo