一.前言 最近忙于硕士毕业设计和论文,没有太多时间编写博客,现总结下之前在某个项目中用到的一个高速ADC接口设计部分.ADC这一器件经常用于无线通信.传感.测试测量等领域.目前数字系统对高速数据采集的需求与日俱增,本文使用了米联客的一款速率较高的AD/DA模块ADQ9481来阐述利用FPGA设计高速ADC接口的技术要点. 二.ADC硬件特性分析 首先必须通过datasheet分析其核心参数.接口定义和时序要求.ADC9481的采样率为250MSPS,精度8bit.其原理结构图如下: 主要引脚说明

图1 FMCW雷达信号参数 在德州仪器TI毫米波雷达中,开发板参数配置往往涉及如图1所示的信号参数. 宏观上看,信号参数包括\(ADC\)采样时间.脉冲重复周期(\(Chirp\)扫频周期)和帧时间(本图中未明确体现,在\(Multichirp ~ Sequence\)中可以更好地体现). \(ADC\)采样时间在图中体现为\(ADC~Sampling~Time\),可以通过\(\frac{1}{F_s} \times ADC_{NUM}\)来确定,其中\(Fs\)为采样频率,\(ADC_{NU

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

http://blog.csdn.net/varding/article/details/17559399 http://www.51hei.com/stm32/3842.html https://www.amobbs.com/forum.php?_dsign=7ed5b68e&mod=viewthread&tid=4132217 STM32 如何用外部脉冲触发DMA,开始ADC采样? http://blog.csdn.net/gtkknd/article/details/40155287

使用EFM8SB的MCU做ADC采样,检测MIC Bias的电源,解码android耳机的线控.初始时, ADC的采样频率2KHz, 在录音时后播放,能固定的听到接近2K的一个噪声.示波器探测不到明显的噪声信号.增大ADC采样频率到30KHz, 声音变得更加尖锐,幅度变小,但是听起来很不舒服.减少到10Hz, 噪声幅度变大,噪声频率跟随到低频. MicBias增加RC滤波器, ADC恢复到初始2K, MIC录音噪声消除,但是ADC采样结果变差.查datasheet中 电容增加,导致ADC的set

最近学习了一下STM32中的ADC采样,由于手头正好有一个MQ-2的烟雾传感器,所以正好可以测试一把.体验ADC采样的过程.下面介绍一下这个MQ-2烟雾传感器. 1.MQ-2烟雾传感器简介 MQ-2气体传感器所使用的气敏材料是在清洁空气中电导率较低的二氧化锡(SnO2).当传感器所处环境中存在可燃气体时,传感器的电导率随空气中可燃气体浓度的增加而增大.使用简单的电路即可将电导率的变化转换为与该气体浓度相对应的输出信号. MQ-2气体传感器对液化气.丙烷.氢气的灵敏度高,对天然气和其它可燃蒸汽的检

DSP基础学习-ADC采样 彭会锋 2015-04-27 22:30:03 在查看ADC采样例程的时候我发现了下面的代码挺有意思的 EALLOW; GpioCtrlRegs.GPAMUX2.bit.GPIO18 = ; // 通过GPIO端口A多路器将GPIO18配置为外部时钟输出 XCLOCKOUT SysCtrlRegs.XCLK.bit.XCLKOUTDIV = ; // 外部输出时钟,XCLOCKOUT = SYSCLK EDIS; 先贴出来,随后完善内容,主要是关于XCLOCKOUT的

利用基准电压效正Vcc做参考电压的ADC采样计算方法

STM32的ADC采样时间与其ADC的时钟频率密不可分. 例:STM32F103系列的ADC的时钟是在APB2(最大72MHZ)上.我们可以对其分频: RCC_PCLK2_Div2: ADC clock = PCLK2/2   //72/2=36MHz RCC_PCLK2_Div4: ADC clock = PCLK2/4   //72M/4=18MHz RCC_PCLK2_Div6: ADC clock = PCLK2/6  //72M/6=12MHz RCC_PCLK2_Div8: ADC

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

术语"RMS"代表"Root-Mean-Squared".大多数书籍将此定义为"产生与等效直流电源相同的加热效果的交流电量",或者沿着这些线路类似的东西,但RMS值不仅仅是这个. RMS值是瞬时值的平方函数的平均值(平均值)的平方根. 笔者的印象中第一次接触到交流电是初中,具体是初二还是初三就不太清楚了.交流电动势的表达式为e=E(m)sinωt,其中E(m)为交流电动势的最大值,那么交流电动势的有效值为 E=E(m)/√2 同理得交流电压的有效

1.头文件 #include "tiva_adc.h" // ADC 2.引脚 3.初始化 // ADC初始化 // 光敏电阻(PE0)为通道3,存在序列0中,硬件平均为8个点 adc_init(TIVA_ADC1 , Channel_3, Sequence0, GPIOE, Pin0, ); // 滑动变阻器为通道2  adc_init(TIVA_ADC1 , Channel_2, Sequence1, GPIOE, Pin1, 8); //具体函数内容 //channel:0-11

如何利用单片机的ADC模块(或者独立的ADC芯片)得到接入ADC管脚上的实际电压值?这个问题,是第一次接触ADC时候,大家都会遇到的问题.会读到什么值单片机会读到什么值?需要看一个特性,就是几位的ADC,在手册上就会给出,例如,STM32的ADC是12位的.另外,还有8位,10位,16位,24位等.我先告诉你答案:STM32读到的ADC值,是从0到4095,当你把ADC引脚接了GND,读到的就是0,当你把ADC引脚接了VDD,读到的就是4095.接下来告诉你为什么:前面提到,STM32的ADC是

为了熟悉定时器定时器和ADC 用STM32F407DIS做了一个简单的工程: 通过高级定时器TIM1溢出更新时间作为触发输出信号(TRGO),触发TIM8开始计数: 同时TIM1的通道1.2.3以及分别的互补通道输出6路PWM波用于控制三相电机: TIM1的通道4用于触发ADC1的注入通道: TIM8的通道1用于触发三个ADC的的规则通道: TIM8的通道2用于触发ADC2的注入通道: 最后采样结果通过DMA传输到数组内保存起来: 为此,绘制了程序框图: 由框图来看工程更加清晰,更便于理解: 接

一 STM32 ADC 采样频率的确定 1.       : 先看一些资料,确定一下ADC 的时钟: (1),由时钟控制器提供的ADCCLK 时钟和PCLK2(APB2 时钟)同步.CLK 控制器为ADC 时钟提供一个专用的可编程预分频器. (2) 一般情况下在程序 中将 PCLK2 时钟设为 与系统时钟 相同 /* HCLK = SYSCLK */ RCC_HCLKConfig(RCC_SYSCLK_Div1); /* PCLK2 = HCLK */ RCC_PCLK2Config(RCC_H

这段时间在调试AM4378的ADC问题,发现采样到的数据和真实输入波形有所出入,比如输入是1ms的周期,50%占空比的信号,但是采样的数据描点总是偏差较大,数据如下 iio device number being used is scan_size: read_size: ADC value: ADC AVG Value: read_size: ADC value: ADC AVG Value: read_size: ADC value: ADC AVG Value: read_size: AD

单片机可以处理单端ADC(不在电压范围内要进行分压),也可以处理差分ADC(但需要双路输入).差分信号在传输过程中抗共模干扰能力很强,所以传输中都用差分传输,到ADC时可以差分也可以单端(需要放大器处理),或者用专门的SAR型差分输入数字输出的ADC专用芯片. 一 差分输入转单端输出的运放: ADA4807-2 :https://www.jianshu.com/p/e6e43013465d LT1567 :https://www.analog.com/cn/design-center/refer

1.背景         此实验建立在STM32F429核心板基础上,对于深刻了解STM32Cube使用具有深刻意义.利用DMA进行ADC采样,具有速度快,极大减少CPU消耗的优势,对于数据采集系统具有很大的优势,特别是其单路2.4MSPS采样速度,三路组合可以达到惊人的7.2MSPS采样速度,对于一般应用均可满足. 2.STM32Cube配置      2.1 工程建立在前面均与简述,这里不做赘述,系统时钟180MHz.        2.2 ADC参数配置              Scan

1. 引言 随着科学技术的发展,人们对宏观和微观世界逐步了解,越来越多领域(物理学.化学.天文学.军事雷达.地震学.生物医学等)的微弱信号需要被检测,例如:弱磁.弱光.微震动.小位移.心电.脑电等[1-3].测控技术发展到现在,微弱信号检测技术已经相对成熟,基本上采用以下两种方法来实现:一种是先将信号放大滤波,再用低或中分辨率的ADC进行采样,转化为数字信号后,再做信号处理,另一种是使用高分辨率ADC,对微弱信号直接采样,再进行数字信号处理.两种方法各有千秋,也都有自己的缺点.前一种方法,ADC

Hi3518EV200平台ADC多通道采样流程 Hi3518EV200 ADC 本文针对Hi3518EV200平台处理器,通过ADC单次采样方式,实现对多通道(1~4通道)ADC进行采样控制.本文仅仅是对Hi3518EV200芯片ADC的用法的介绍,不涉及ADC具体的工作原理.转换原理等细节内容.废话不多说,直入正题! Hi3518EV200芯片ADC模块简介: 特性: 电源电压:3.3V 扫描频率不能高于200K/s 独立通道:4路 特点: 支持单次启动,每次扫描一个通道,不滤毛刺,提供中断以