下面介绍一种用单片机AD采样的方式检测市电电压的方法  要检测交流市电的电压,通常有两种方法 一.通过频繁的采样后再求平均值来获得实际电压值 二.通过采样交流市电的峰值,再通过算法得出实际电压值 这里我们讲述峰值采样法的步骤: 1.在正半波时,频繁采样市电AD值,在每次采样后进行 从小到大排序并保存几个最大值的结果,分别放在R_SaveVolAC[0]..R_SaveVolAC[3] 2.在负半波时,把刚才所采样到的几个值中,提取R_SaveVolAC[1]的值作为 上个正半波的的最大值.(R_

实现 AD 采样,使用 LCD1602 显示 AD 数值 写在前面 单片机内集成的A/D转换,一般都有相应的特殊功能寄存器来设置A/D的使能标志,参考电压,转换频率,通道选择,A/D输入口的属性(模拟量输入还是普通的I/O口),启动,停止控制等.有了这些寄存器,使得我们控制单片机的模拟量采集变得非常方便. A/D转换的基本原理是:将参考电平按最大的转换值量化,再利用输入模拟电平与参考电平的比例来求得输入电平的测量值(V测=V参*(AD量化值/AD转换的最大值)).有些MCU A/D转换的参考电平

实验采用带模拟量,分辨率为1-5V,量程为0--101kpa的真空表 数据采集模块采用DAM-8021,  16位模块 算法描述如下: 真空表读数范围: 0到-101kpa 模拟量输出: 1-5V 一次AD数据采集结果为(由串口助手取得):  >+03.921-00.000 此时真空表读数:  74.2 则系数A=(3.921-1)/74.2=0.0393 真空表模拟量输出修正系数:  是指真空表模拟量输出的偏差. 其取得方法为,  将真空去掉,让真空表读数为零, 读一次AD采样的结果, 例如其

在进行STM32F中AD采样的学习中,我们知道AD采样的方法有多种,按照逻辑程序处理有三种方式,一种是查询模式,一种是中断处理模式,一种是DMA模式.三种方法按照处理复杂方法DMA模式处理模式效率最高,其次是中断处理模式,最差是查询模式,相信很多学者在学习AD采样程序时,很多例程采用DMA模式,在这里我针对三种程序进行分别分析. 1.AD采样查询模式 在AD采样查询模式中,我们需要注意的是IO口的初始化配置,这里我采用PA2作为模拟采集的引脚(AIN2)和串口3作为打印输出. 具体如下:建立一个

说明:来源http://bbs.csdn.net/topics/390899032论坛讨论 一个100HZ的正弦波,我用300HZ的采样率去采样,那么根据香农定律是不是一秒钟就采集到300个点,因为这个波形是100HZ,所以这一秒钟内就有一百个波形经过,那么300个点平均到每个波形上就只有3个点了,也就是一个波形上采集3个点, 采样率一般是Sps为单位,而不是用Hz, 例如300Sps,即300 Samples Per  Second.100Hz的正弦,用300Sps的采样率,则平均每个正弦周期

在使用STM32的ADC进行检测电压时必须回涉及到电压值的计算,为了更高效率的获取电压,现在有以下三种方法: 你得到的结果是你当前AD引脚上的电压值相对于3.3V和4096转换成的数字.假如你得到的AD结果是ADC_DR这个变量,他们存在以下关系: ADC_DR/当前电压值 = 4096/3300毫伏如果你反过程想得到当前电压值,可以如下计算:unsigned long Voltage;Voltage = ADC_DR; //---假设你得到的AD结果存放到ADC_DR这个变量中;Voltage

Stm32的ADC有DMA功能这都毋庸置疑,也是我们用的最多的!然而,如果我们要对一个信号(比如脉搏信号)进行定时采样(也就是隔一段时间,比如说2ms),有三种方法: 1.使用定时器中断每隔一定时间进行ADC转换,这样每次都必须读ADC的数据寄存器,非常浪费时间! 2.把ADC设置成连续转换模式,同时对应的DMA通道开启循环模式,这样ADC就一直在进行数据采集然后通过DMA把数据搬运至内存.但是这样做的话还得加一个定时中断,用来定时读取内存中的数据! 3.使用ADC的定时器触发ADC转换的功能,

用122.88k时钟采样153.6k的信号

adc采集到的信号对低频有一定的衰减.因为要确定衰减的程度.通过da输出到示波器上观察. 数据如下: 输入 输出(enable) 输出(disable) 1v(20hz) 1v 0.88v 1v(10hz) 0.76v 0.76v 1v(8hz) 0.6v 0.68v 1v(5hz) 0.4v 0.5v 1v(3hz) 0.25v 0.35v 1v(2hz) 0.15v 0.25v 1v(1hz) 0.05v 0.12v 在8hz以下还是有比较到的衰减.这是使用示波器观察还是经过dac的于是想直

#include<reg52.h> sfr ADC_CONTR = 0xBC; //ADC control register sfr ADC_RES = 0xBD; //ADC 8-bit result register sfr P1ASF = 0x9D; //P1 secondary function control register /* Define ADC operation const for ADC_CONTER */ #define ADC_POWER 0x80 #define

iADC_read(, &u16NTC_1_Sample_Val_ARR[]); == ui8FirstSampleFlag) { ; i<; i++) { u16NTC_1_Sample_Val_ARR[i] = u16NTC_1_Sample_Val_ARR[]; } ui8FirstSampleFlag = ; } u16NTC_1_Sample_Val_ARR[] = (uint16_t) ((] + u16NTC_1_Sample_Val_ARR[] + u16NTC_1_Samp

飞思卡尔的KL25单片机AD做的是很不错的,SAR型能做到16位.不过数据手册就写得不怎么样了,简直可以说是坑爹,很难看懂.有的描述让人难以理解,你指望在别的地方对不理解的地方会有其他角度的描述,结果你发现关于同一描述,他们坚定的采用了复制粘贴的办法!擦! 而且,我还发现了数据手册的错误.用户手册上给出了一个案列,AD工作在16bit单端模式下ADCK为1MHZ,但是数据手册上注明如果AD工作在16比特模式,ADCK必须至少2MHZ,你说这不是坑爹不是!我给官网发了邮件,他们打哈哈让我去社区搜帖

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

之前一直没搞明白模拟电压转换电路,不知道应该怎么计算转换电压,最近一个项目中用到几处模拟电压的采集,硬件是由其他同事设计的,转换公式也是他给的,记录一下: 24V电压采集: 公式:Vout = Vin/(100+10)*10/(2+100)*100 12V电压采集: 公式:Vout = Vin/(10+2)*2/(2+100)*100 5V电压采集: 公式:Vout = Vin/(1+1)*1/(2+100)*100 3.3V电压采集: 公式:Vout = Vin/(1+4.7)*4.7/(2+

1. 在实际种信号是模拟连续的,但是AD采样确实离散的数字的,根据采样定理,采样频率要是模拟信号的频率2倍以上采样到的值才没问题. 2. 打开工程 unsigned ]; main() { int i; unsigned int uWork; EnableAPLL(); SDRAM_init(); InitADC(); PLL_Init(); InitCTR(); InitMcBSP(); ) { ;i<;i++ ) { ADCCTL=0x8000; // 启动AD转换,通道0 do { uWo

AD转换器的主要指标如下: (1)分辨率(Resolution).指数字量变化一个最小量时模拟信号的变化量,定义为满刻度与2n的比值.分辨率又称精度,通常以数字信号的位数来表示.定义满刻度于2^n的比值(n为AD器件位数).对于5V满刻度,采用8位的AD时,分辨率为5V/256=0.01953V=19.53mv:当采用12位的AD时,分辨率则为5V/4096=0.00122V=0.122mv.位数越多,分辨率就越高 (2)转换速率(Conversion Rate).是指完成一次从模拟转换到数字的

1)分辩率(Resolution) 指数字量变化一个最小量时模拟信号的变化量,定义为满刻度与2n的比值.分辩率又称精度,通常以数字信号的位数来表示.     2) 转换速率(Conversion Rate)是指完成一次从模拟转换到数字的AD转换所需的时间的倒数.积分型AD的转换时间是毫秒级属低速AD,逐次比较型AD是微秒级属中速AD,全并行/串并行型AD可达到纳秒级.采样时间则是另外一个概念,是指两次转换的间隔.为了保证转换的正确完成,采样速率(Sample Rate)必须小于或等于转换速率.因

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

ylbtech-IDC:UPS(不间断电源) UPS(Uninterruptible Power System/Uninterruptible Power Supply),即不间断电源,是将蓄电池(多为铅酸免维护蓄电池)与主机相连接,通过主机逆变器等模块电路将直流电转换成市电的系统设备.主要用于给单台计算机.计算机网络系统或其它电力电子设备如电磁阀.压力变送器等提供稳定.不间断的电力供应.当市电输入正常时,UPS 将市电稳压后供应给负载使用,此时的UPS就是一台交流式电稳压器,同时它还向机内电池

穿戴式 设备如智能手环.智能手表一般采用几百毫安时的锂离子电池来供电.因此,与之配套的充电电路.稳压电路和电池电量检测电路便必不可少!本文主要谈谈该类消费类电子内部电池电量检测的一般方法及其优缺点. 电池电量检测看似简单,实则不易! 目前人们主要使用的两种检测电池电量的方法是: 一种方法以电流积分为基础:而另一种则以电压测量为基础. 下面是一种简单的综合电流法和电压法的电池电量检测方案: 其中电流检测方法本质是电压,是通过使用AD采样采样电阻两端的电压,并根据欧姆定律来获得电流,然后根据库伦定量