上一讲中我们学习了几种常用的程序调试方法,这一讲中将介绍Keil提供各种窗口如输出窗口.观察窗口.存储器窗口.反汇编窗口.串行窗口等的用途,以及这些窗口的使用方法,并通过实例介绍这些窗口在调试中的使用. 一.程序调试时的常用窗口 Keil软件在调试程序时提供了多个窗口,主要包括输出窗口(Output Windows).观察窗口(Watch&Call Statck Windows).存储器窗口(Memory Window).反汇编窗口(Dissambly Window)串行窗口(Serial Wi

第一节 系统概述 Keil C51是美国Keil Software公司出品的51系列兼容单片机C语言软件开发系统,与汇编相比,C语言在功能上.结构性.可读性.可维护性上有明显的优势,因而易学易用.用过汇编语言后再使用C来开发,体会更加深刻.Keil C51软件提供丰富的库函数和功能强大的集成开发调试工具,全Windows界面.另外重要的一点,只要看一下编译后生成的汇编代码,就能体会到Keil C51生成的目标代码效率非常之高,多数语句生成的汇编代码很紧凑,容易理解.在开发大型软件时更能体现高级语

在前面的几讲中我们介绍了工程的建立方法,常用的调试方法,除此之外,Keil 还提供 了一些辅助工具如外围接口.性能分析.变量来源分析.代码作用分析等,帮助我们了解程 的性能.查找程序中的隐藏错误,快速查看程序变量名信息等,这一讲中将对这些功工具作 一介绍,另外还将介绍 Keil 的部份高级调试技巧. 一. 辅助工具 这部份功能并不是直接用来进行程序调试的,但可以帮助我们进行程序的调试.程序性 能的分析,同样是一些很有用的工具. 1.外围接口 为了能够比较直观地了解单片机中定时器.中断.并行端口.

上一讲中我们学习了如何建立工程.汇编.连接工程,并获得目标代码,但是做到这一 步仅仅代表你的源程序没有语法错误,至于源程序中存在着的其它错误,必须通过调试才能 发现并解决,事实上,除了极简单的程序以外,绝大部份的程序都要通过反复调试才能得到 正确的结果,因此,调试是软件开发中重要的一个环节,这一讲将介绍常用的调试命令.利 用在线汇编.各种设置断点进行程序调试的方法,并通过实例介绍这些方法的使用. 一.常用调试命令 在对工程成功地进行汇编.连接以后,按 Ctrl+F5 或者使用菜单 Debug->

KEIL C51标准C编译器为8051微控制器的软件开发提供了C语言环境,但是界面是英文的好多初学者看很多教程都是一头雾水,这个相对简单的教程.KEIL C51编译器的功能不断增强,使你可以更加贴近CPU本身,及其它的衍生产品,其效率已经达到了相当搞的程度.C51已被完全集成到uVision2的集成开发环境中,这个集成开发环境包含:编译器,汇编器,实时操作系统,项目管理器,调试器.uVision2 IDE可为它们提供单一而灵活的开发环境. Keil C51 软件是众多单片机应用开发的优秀软件之一

Keil  uVISION2  是众多单片机应用开发软件中优秀的软件之一,它支持众多不同公司的 MCS-51 架构的芯片,它集编辑,编译,仿真等于一体,同时还支持.PLM.汇编和 C 语言的程序设计,界面友好,易学易用,在调试程序,软件仿真方面也有很强大的功能. 因此很多开发 51 单片机  应用的工程师或普通的单片机爱好者,都对它十分喜欢. Keil Cx51  是一个商业的软件,分两个版本,一个是完全版,使用时对生成的机器代码空间不作任何限制,另一个是只能编译 2K 代码空间 的 DEMO

用定时器延时,有时候显得有点麻烦,我们不如考虑软件精确延时,软件延时无非就是利用for或while多重循环.以前用到延时函数时,都是从网上下载别人写好的延时子程序.延时5ms,400ms,1s,……,这些延时函数的函数名中都清清楚楚地标明了延时的时间,可我一直不知道这些函数是如何编写的,确切地说,是如果根据延时时间来确定循环次数的.如果是纳秒级的延时,可以通过示波器来观察波形,或者反汇编一下,计算一下指令执行时间,但如果延时时间相对较长,示波器便无能为力了.这几天好好看了一下Keil调试,发现K

第一章 Keil C51开发系统基本知识 第一节 系统概述 Keil C51是美国Keil Software公司出品的51系列兼容单片机C语言软件开发系统,与汇编相比,C语言在功能上.结构性.可读性.可维护性上有明显的优势,因而易学易用.用过汇编语言后再使用C来开发,体会更加深刻.Keil C51软件提供丰富的库函数和功能强大的集成开发调试工具,全Windows界面.另外重要的一点,只要看一下编译后生成的汇编代码,就能体会到Keil C51生成的目标代码效率非常之高,多数语句生成的汇编代码很紧凑

转载2015-06-14 20:23:04 一.在keilc的调试状态下,如何观察各个片内外设的运行状态?如何修改它们的设置?​ 在调试状态下,点击Peripherals菜单下的不同外设选项命令,就会显示或隐藏对应外设的观察窗口. 在程序运行时,各个片内外设的状态会不断地变化,为了随时观察它们的变化,为了随时观察它们的变化,可以启用view菜单下的Periodic Windows Update命令,让keilc自动周期刷新各个调试窗口.​ 二.在keilc的调试状态下,如何观察和修改变量?​ 在

第一个问题:调试时候想实时查看某一变量变化? view 菜单下的 watch windows,全局变量才能查看 比如要查看u8 adcx的值变化,如下: 全速运行后,如下: 无法查看!什么问题? 该变量非全局变量! 解决办法: 必须是当前断点处所在的函数里面有这个参数才行,或者是全局变量. 将变量adcx改为全局变量: 调试状态下,鼠标选中变量后点右键,弹出的菜单有增加到变量窗口一栏,添加到watch #1 watch #2都可以. 函数里面的局部变量用j-link硬件调试,看不到那些值吗? 当

接上一篇,debug出现问题 1.手动安装STM32 芯片包   Keil.STM32F1xx_DFP.2.2.0.pack; https://www.keil.com/dd2/Pack/ 百度网盘 https://pan.baidu.com/s/1nD-jm2Z81eRlJUpExQB1sQ?errno=0&errmsg=Auth%20Login%20Sucess&&bduss=&ssnerror=0&traceid= 将下载的pack包放在   Keil11\A

详见:http://pan.baidu.com/s/1gfFLbJ9 DICOM医学图像窗口变换的加速算法* 张尤赛 ,陈福民 ( 同济大学计算中心, 上海 200092 ) (华东船舶工业学院电子与信息系,江苏 镇江 212003) E_mail:yszhang100@sina.com   摘 要:研究DICOM医学图像的显示技术,提出了一种图象窗口变换的加速算法,该算法简洁.实用.加速效果理想, 可以在动态连续调节图像窗值的情况下实时地显示DICOM医学图像. 关键词: DICOM: 医学图

Windows窗口消息大全,全不全自己看 ////////////////////////////////////////////////////////////////////////// #include "AFXPRIV.H"//消息值的定义来源 #include "Dde.h"//DDE消息值的定义来源 #include "CPL.H"//控制面板消息值的定义来源 #include "WFEXT.H"//文件管理器的消

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常用的窗体基类是 QWidget.QDialog 和 QMainWindow,在创建 GUI 应用程序时选择窗体基类就是从这 3 个类中选择. QWidget 直接继承于 QObject,是 QDialog 和 QMainWindow 的父类,其他继承于 QWidget 的窗体类还有 QSplashScreen.QMdiSubWindow 和 QDesktopWidget.另外还有一个类 QWindow,它同时从 QObject 和 QSurface 继承.这些类的继承关系如图 1 所示. 图

C51强大功能及其高效率的重要体现之一在于其丰富的可直接调用的库函数,多使用库函数使程序代码简单,结构清晰,易于调试和维护,下面介绍C51的库函数系统. 第一节 本征库函数(intrinsic routines)和非本征证库函数 C51提供的本征函数是指编译时直接将固定的代码插入当前行,而不是用ACALL和LCALL语句来实现,这样就大大提供了函数访问的效率,而非本征函数则必须由ACALL及LCALL调用.C51的本征库函数只有9个,数目虽少,但都非常有用,列如下:_crol_,_cror_:将

目录: 第1部分:参照“正点原子USB虚拟串口工程移植步骤”移植ST的USB HID工程(失败了): 第2部分:在1的基础上,替换USB HID初始化代码为ST 例程中的代码,编译后根据报错调试(失败了): 第3部分:直接移植ST的USB HID工程,根据报错调试代码(成功了).       小孙想要总结这一年来学到的关于stm32的USB相关知识,但又不知道怎么总结,于是决定 从头开始调试固件库代码,直到实现USB功能为止!     首先准备参照正点原子<第88讲 USB虚拟串口实验-M3>

Open JTAG Project is an open source hardware and software for a high speed USB JTAG tool. In this site, you can find and download all necesary files to make your JTAG device. The electric schematics, the PCB design including Gerber files, the VHDL pr

STM32 Cortex-M3 Hard Fault Hard fault (硬错误,也有译为硬件错误的)是在STM32(如无特别说明,这里的STM32指的是Cortex-M3的核)上编写程序中所产生的错误,造成Hard Fault错误的原因也是最为纷繁复杂的.由于能导致该错误的原因很多,所以一但出现,比较难找到其原因.网上有很多类似的这种方法,现在我将其稍加整理,并结合我曾经遇到过的问题,详细说明. 硬fault 是总线fault.存储器管理fault 以及用法fault 上访的结果.如果这些

超级循环结构的程序调试一般依赖于断点,单步,查看变量和内存变量(keil中的Memory Window 或者 Watch window):而带微操作系统的程序由于加了这个中间层调试方法可能传统的有些区别,函数内部还可以用原始的方法调试,但任务级的则需要新的调试方法(有时候需要硬件调试器的支持). ARM cortex-M 系列的芯片其实有很强的CoreSight片上调试支持,实际上就是一个小的调试硬件,作为ARM的标准,内嵌在ARM的芯片里.在ARM自家的调试器ULINK-pro等的帮助下,可以