JTAG-测试数据寄存器
2024-10-17 08:10:21
1、问题:JTAG中的数据寄存器的结构
JTAG标准规定了两个必须的数据寄存器:
1、旁通寄存器
2、边界扫描寄存器(已经在可测性设计-扫描通路中介绍了)
可选的的寄存器有:
1、器件标示寄存器(32位)
2、旁通寄存器
TAP状态机在Capture_DR状态下捕获“0”,shift_DR状态下,输出输出Bypass寄存器状态0。
3、器件标示寄存器
其中最低位为1,与Bypass为0,是相对应的。这样,在单板上测试器件时,很容易识别有多少个器件。
根据IEEE1149.1,芯片上电开始,若有IDcode,则IDCODE指令移入指令寄存器,否则BYPASS指令移入指令寄存器。
所以单板测试时,需要识别器件的过程中:
1、TAP直接进入进入Select_DR_Scan状态,然后依次通过Capture_DR,Shift_DR状态。
2、从TDO移位出的数据,如果第一位为0,则表示,器件没有标示寄存器。如果第一位为1,则表示器件有标示寄存器,应该关注紧接着的31位数据。
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